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陈小湾
求职意向
工作经历
XXX半导体是一家专注于通信和物联网芯片设计的Fabless公司，团队规模约XXX人，核心业务是设计、销售XXXnm-XXXnm工艺节点的数模混合芯片，产品服务于消费电子和工业控制领域，与多家封装测试厂建立了稳定的合作关系。
工作概述：
1.测试计划制定：依据芯片设计规格书和项目节点，协助制定测试计划初稿；收集整理设计工程师对测试点的需求，按照测试覆盖率要求将测试项归类到不同测试模式；使用Excel工具跟踪计划完成状态，及时更新延期风险项；通过参与多次计划评审与修订，使负责模块的测试计划完整率提升至XXX%。
2.ATPG开发：为解决芯片制造后故障检测问题，使用Tessent工具链进行自动测试向量生成；根据设计网表和故障模型，编写扫描链配置与测试协议约束文件；运行ATPG工具生成测试向量，分析并报告未覆盖的故障点；与设计工程师沟通，修复测试违例以提升故障覆盖率；通过脚本将测试向量格式转换为ATE机台可识别的波形，最终使负责模块的故障覆盖率从XXX%提升至XXX%。
3.边界扫描测试：为支持芯片在电路板级的连接性测试，参与边界扫描测试链的设计与验证工作；使用工具在网表中插入边界扫描单元，并验证扫描链的完整性与正确性；编写边界扫描描述语言文件，定义测试指令与数据寄存器；开发基础的互联测试与采样测试向量，协助硬件工程师定位焊接问题；通过优化扫描链顺序，将平均故障定位时间缩短了XXX%。
4.MBIST开发：为保障芯片内部存储器的制造质量，参与存储器内建自测试逻辑的插入与验证；根据存储器的大小和类型，配置MBIST控制器参数，生成包含自测试逻辑的设计网表；运行仿真验证MBIST功能，检查测试算法是否完整覆盖存储器故障；分析MBIST插入带来的时序影响，并协助进行时序约束更新；通过建立标准检查项文档，使MBIST首次插入成功率提高了XXX%。
工作业绩：
1.参与支持了X颗芯片从设计到流片的完整DFT流程，负责模块的测试计划交付准时率达XXX%。
2.独立完成X个中型数字模块的ATPG开发，平均故障覆盖率稳定达到XXX%以上，测试向量生成效率提升XXX%。
3.协助完成X个芯片项目的边界扫描测试开发工作，提供的测试向量成功帮助硬件团队定位XXX类焊接缺陷。
4.参与X个项目的MBIST插入与验证，所有存储器均通过制造测试，相关检查文档被团队采纳为标准流程之一。
主动离职，希望有更多的工作挑战和涨薪机会。
项目经历
公司一款主打低功耗的物联网芯片研发项目，采用XXXnm工艺，包含一个主控CPU、多个数字协处理器和模拟射频模块。项目初期DFT方案不明确，测试模式与芯片低功耗模式存在冲突风险，测试向量容量预估超过ATE机台存储限制，需要在一个月内完成所有数字模块的DFT方案制定、插入与向量交付，以保障流片节点。
项目职责：
1.测试架构制定：协助分析芯片整体架构与低功耗设计，参与制定扫描测试、MBIST、边界扫描的混合测试方案；评估不同测试模式下的功耗，为避免测试过功耗提供数据支持。
2.ATPG开发与交付：负责其中两个数字协处理器的ATPG全流程工作；包括扫描链插入、DRC检查、测试协议编写、测试向量生成与转换；使用压缩技术控制测试向量数据量。
3.边界扫描设计：参与芯片顶层边界扫描链的设计，负责梳理和确认指定IO端口的控制与观察需求；编写对应的BSDL描述文件。
4.测试程序开发：协助将生成的各类测试向量集成到ATE测试程序中，在实验室使用FPGA原型验证平台进行基础功能验证。
项目业绩：
1.按时交付所负责模块的DFT网表与测试向量，芯片最终测试覆盖率达标，达到XXX%。
2.通过测试压缩技术，将负责模块的测试向量数据量降低了XXX%，满足ATE机台存储要求。
3.参与开发的边界扫描测试在芯片回片后，成功帮助硬件团队在XXX小时内定位出首轮PCB的布线错误。
4.项目积累的DFT流程检查清单与问题记录，被后续X个类似项目参考采用。
教育背景
GPA X.XX/4.0（专业排名前XX%），主修数字集成电路设计、半导体物理、Verilog HDL等核心课程。主导完成课程设计《基于FPGA的简易CPU功能测试方案》，使用Verilog编写测试激励并分析覆盖率，熟悉Tessent或类似DFT工具的基本操作流程，了解Verdi调试工具。通过大学英语六级（CET-6）。
自我评价
培训经历
2023年暑期，参加Synopsys公司举办的DFT前沿技术培训，系统学习了Tessent工具在扫描测试、ATPG、MBIST等方面的应用流程。培训后将知识应用于实习项目，使用工具中的DRC检查功能提前发现设计隐患，缩短了模块级DFT集成时间约XXX%。根据培训所学，整理了《ATPG流程常见问题排查指南》在内部分享，其中X个检查点被导师纳入团队标准操作流程。
应届生DFT工程师大气简历模板
678人使用适用人群: #DFT工程师 #应届生[<1年]
[基本信息]
姓名：陈小湾
性别：男
年龄：26
学历：本科
婚姻：未婚
年限：4年
面貌：党员
邮箱：xiaowan@gangwan.com
电话：18600001654
[求职意向]
工作性质：全职
应聘职位：DFT工程师
期望城市：北京
期望薪资：8000-10000
求职状态：离职-随时到岗
[工作经历]
北京XX科技有限公司 | DFT工程师
2024-09 - 2025-12
XXX半导体是一家专注于通信和物联网芯片设计的Fabless公司，团队规模约XXX人，核心业务是设计、销售XXXnm-XXXnm工艺节点的数模混合芯片，产品服务于消费电子和工业控制领域，与多家封装测试厂建立了稳定的合作关系。
工作概述：
1.测试计划制定：依据芯片设计规格书和项目节点，协助制定测试计划初稿；收集整理设计工程师对测试点的需求，按照测试覆盖率要求将测试项归类到不同测试模式；使用Excel工具跟踪计划完成状态，及时更新延期风险项；通过参与多次计划评审与修订，使负责模块的测试计划完整率提升至XXX%。
2.ATPG开发：为解决芯片制造后故障检测问题，使用Tessent工具链进行自动测试向量生成；根据设计网表和故障模型，编写扫描链配置与测试协议约束文件；运行ATPG工具生成测试向量，分析并报告未覆盖的故障点；与设计工程师沟通，修复测试违例以提升故障覆盖率；通过脚本将测试向量格式转换为ATE机台可识别的波形，最终使负责模块的故障覆盖率从XXX%提升至XXX%。
3.边界扫描测试：为支持芯片在电路板级的连接性测试，参与边界扫描测试链的设计与验证工作；使用工具在网表中插入边界扫描单元，并验证扫描链的完整性与正确性；编写边界扫描描述语言文件，定义测试指令与数据寄存器；开发基础的互联测试与采样测试向量，协助硬件工程师定位焊接问题；通过优化扫描链顺序，将平均故障定位时间缩短了XXX%。
4.MBIST开发：为保障芯片内部存储器的制造质量，参与存储器内建自测试逻辑的插入与验证；根据存储器的大小和类型，配置MBIST控制器参数，生成包含自测试逻辑的设计网表；运行仿真验证MBIST功能，检查测试算法是否完整覆盖存储器故障；分析MBIST插入带来的时序影响，并协助进行时序约束更新；通过建立标准检查项文档，使MBIST首次插入成功率提高了XXX%。
工作业绩：
1.参与支持了X颗芯片从设计到流片的完整DFT流程，负责模块的测试计划交付准时率达XXX%。
2.独立完成X个中型数字模块的ATPG开发，平均故障覆盖率稳定达到XXX%以上，测试向量生成效率提升XXX%。
3.协助完成X个芯片项目的边界扫描测试开发工作，提供的测试向量成功帮助硬件团队定位XXX类焊接缺陷。
4.参与X个项目的MBIST插入与验证，所有存储器均通过制造测试，相关检查文档被团队采纳为标准流程之一。
[项目经历]
项目名称：低功耗物联网通信芯片DFT实现
担任角色：项目负责人
公司一款主打低功耗的物联网芯片研发项目，采用XXXnm工艺，包含一个主控CPU、多个数字协处理器和模拟射频模块。项目初期DFT方案不明确，测试模式与芯片低功耗模式存在冲突风险，测试向量容量预估超过ATE机台存储限制，需要在一个月内完成所有数字模块的DFT方案制定、插入与向量交付，以保障流片节点。
项目业绩：
1.按时交付所负责模块的DFT网表与测试向量，芯片最终测试覆盖率达标，达到XXX%。
2.通过测试压缩技术，将负责模块的测试向量数据量降低了XXX%，满足ATE机台存储要求。
3.参与开发的边界扫描测试在芯片回片后，成功帮助硬件团队在XXX小时内定位出首轮PCB的布线错误。
4.项目积累的DFT流程检查清单与问题记录，被后续X个类似项目参考采用。
[教育背景]
江苏大学
微电子科学与工程 | 本科
GPA X.XX/4.0（专业排名前XX%），主修数字集成电路设计、半导体物理、Verilog HDL等核心课程。主导完成课程设计《基于FPGA的简易CPU功能测试方案》，使用Verilog编写测试激励并分析覆盖率，熟悉Tessent或类似DFT工具的基本操作流程，了解Verdi调试工具。通过大学英语六级（CET-6）。