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陈小湾

性别: 男 年龄: 26 学历: 本科 婚姻状态: 未婚 工作年限: 4年 政治面貌: 党员 邮箱: xiaowan@gangwan.com 电话号码: 18600001654

求职意向

工作性质: 全职 应聘职位: DFT工程师 期望工作地址: 北京 期望薪资: 8000-10000 求职状态: 离职-随时到岗

工作经历

2024-09 - 2025-12
北京XX科技有限公司
北京

XXX半导体是专注于高性能计算与车载芯片设计的Fabless公司,团队规模约XXX人,核心业务为先进制程ASIC设计与Turnkey解决方案,产品已成功导入多家头部汽车电子与服务器客户供应链,并实现XXX万颗以上的量产交付。

DFT工程师 汇报对象:部门总监

工作概述:

1.测试方案制定:依据芯片规格与项目节点,制定模块级与芯片级DFT架构方案;与设计及产品团队评审测试需求,明确测试覆盖率与测试时间目标;主导编写DFT设计规范文档,为后端实现提供依据,将方案评审通过率提升XXX%。

2.扫描链设计:负责全芯片扫描链的插入与优化,平衡链长与测试时间;使用工具进行扫描链重新排序,解决物理布局导致的时序违例问题;完成扫描链的DRC检查与修复,确保设计规则百分百通过,扫描链插入效率提升XXX%。

3.MBIST插入:负责存储器内建自测试逻辑的插入与验证;根据存储器类型与分布规划MBIST控制器架构,优化测试接口;生成并验证MBIST测试向量,与ATE团队协同调试,将存储器测试故障覆盖率稳定在XXX%以上。

4.ATPG向量生成:基于确定的DFT结构,使用ATPG工具生成生产用测试向量;针对测试机台内存限制,进行向量压缩与分片优化;分析未覆盖故障点并迭代生成向量,最终实现Stuck-at故障覆盖率XXX%与Transition故障覆盖率XXX%的目标。

5.测试成本优化:分析测试向量长度与测试机台时间的关联,通过压缩算法和测试点插入精简向量集;协同封装厂评估测试项目,合并冗余测试项;推动测试流程优化,使得单颗芯片平均测试成本下降XXX%。

6.测试质量提升:参与新产品流片后的工程批测试,分析测试良率数据与失效日志;定位测试向量或设计存在的缺陷,提出修复方案并验证;建立量产测试监控基线,将因测试问题导致的客户退货率降低XXX%。


工作业绩:

1.完成X颗XXX纳米至XXX纳米工艺芯片的DFT全流程工作,保障所有芯片按时交付流片。

2.将芯片平均生产测试时间缩短XXX%,助力主力产品在测试成本上保持竞争优势。

3.主导的DFT方案将量产芯片平均DPPM降低至XXX以下,显著提升了客户满意度。

4.建立团队内部DFT检查清单与问题知识库,将新人项目上手周期缩短XXX%。

主动离职,希望有更多的工作挑战和涨薪机会。

项目经历

2024-09 - 2025-12
XXX纳米车载MCU芯片DFT实现与量产导入
项目负责人

公司首颗车规级MCU芯片项目,采用XXX纳米工艺,集成多个CPU核心与丰富外设模块。项目面临严格的ISO 26262功能安全认证要求与紧张的流片时间窗口,初始DFT方案预估测试时间过长,且无法满足安全机制诊断覆盖率要求,存在量产成本超标与认证失败风险。

项目职责:

1.架构设计:负责制定满足ASIL-B等级要求的DFT安全架构,主导锁步核比较逻辑、安全寄存器链的测试方案设计,确保诊断覆盖率达标。

2.扫描与ATPG:完成包含XXX万门级数字逻辑的扫描链插入与优化,生成满足生产要求的ATPG向量,处理XXX个跨时钟域路径的测试约束。

3.MBIST实现:为芯片内嵌的SRAM与ROM设计分布式的MBIST控制器网络,生成并验证存储器测试模式,解决MBIST与功能逻辑的接口时序问题。

4.生产支持:跟踪工程批晶圆测试与成品测试,分析初期测试良率数据,定位并修复了X个测试向量与ATE程序匹配问题,输出量产测试指导文档。

项目业绩:

1.最终交付的DFT方案实现Stuck-at故障覆盖率XXX%,Transition故障覆盖率XXX%,满足功能安全目标。

2.通过向量压缩与测试流程优化,将量产测试时间从预估的XXX毫秒降低至XXX毫秒,单颗测试成本节约XXX%。

3.项目一次流片成功,工程批测试良率达到XXX%,保障产品按期通过客户认证并进入量产,累计出货超XXX万颗。

4.项目中形成的车规芯片DFT检查流程被采纳为部门标准,应用于后续X个同类项目。

教育背景

2020-09 - 2024-07
江苏大学
微电子科学与工程 本科

GPA X.XX/X.X(专业前XX%),主修半导体物理、数字集成电路设计等核心课程,熟练掌握Verilog语言与Tcl脚本编写。课程设计完成一个基于SMIC XXX纳米工艺的RISC-V处理器核前端设计,并独立负责其扫描链设计与基础ATPG仿真,熟悉Design Compiler与TetraMAX工具的基本流程。

自我评价

专业背景:拥有X年半导体DFT工程师经验,专注纳米级数字芯片的测试方案设计与量产导入,熟悉从RTL到GDSII再到ATE的全流程,累计支持X颗芯片成功流片与量产。技术实现:精通扫描链、ATPG、MBIST等主流DFT技术,能够独立负责中等规模芯片的完整DFT实现,将测试覆盖率稳定提升至XXX%以上,并具备测试成本优化实战经验。流程优化:善于分析测试数据以定位设计或工艺问题,主导建立测试问题排查SOP,将量产测试异常的分析解决周期平均缩短XXX%。个人特质:逻辑清晰,注重细节,具备强烈的责任心与质量意识,能够承受项目压力并与设计、后端、产品等多团队紧密协作,确保芯片按时高质量交付。

培训经历

2024-09 - 2025-12
岗湾培训中心
SV Test认证 北京

系统学习了基于SystemVerilog的高级验证与测试方法学,将断言和功能覆盖率的理念应用于DFT验证环节。在后续项目中,采用类似方法构建模块级DFT特性验证环境,提前发现并修复了X处设计缺陷,提升了DFT交付物的质量与验证效率。

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姓名:陈小湾

性别:

年龄:26

学历:本科

婚姻:未婚

年限:4年

面貌:党员

邮箱:xiaowan@gangwan.com

电话:18600001654

工作性质:全职

应聘职位:DFT工程师

期望城市:北京

期望薪资:8000-10000

求职状态:离职-随时到岗

北京XX科技有限公司 | DFT工程师

2024-09 - 2025-12

公司背景:

XXX半导体是专注于高性能计算与车载芯片设计的Fabless公司,团队规模约XXX人,核心业务为先进制程ASIC设计与Turnkey解决方案,产品已成功导入多家头部汽车电子与服务器客户供应链,并实现XXX万颗以上的量产交付。

工作内容:

工作概述:

1.测试方案制定:依据芯片规格与项目节点,制定模块级与芯片级DFT架构方案;与设计及产品团队评审测试需求,明确测试覆盖率与测试时间目标;主导编写DFT设计规范文档,为后端实现提供依据,将方案评审通过率提升XXX%。

2.扫描链设计:负责全芯片扫描链的插入与优化,平衡链长与测试时间;使用工具进行扫描链重新排序,解决物理布局导致的时序违例问题;完成扫描链的DRC检查与修复,确保设计规则百分百通过,扫描链插入效率提升XXX%。

3.MBIST插入:负责存储器内建自测试逻辑的插入与验证;根据存储器类型与分布规划MBIST控制器架构,优化测试接口;生成并验证MBIST测试向量,与ATE团队协同调试,将存储器测试故障覆盖率稳定在XXX%以上。

4.ATPG向量生成:基于确定的DFT结构,使用ATPG工具生成生产用测试向量;针对测试机台内存限制,进行向量压缩与分片优化;分析未覆盖故障点并迭代生成向量,最终实现Stuck-at故障覆盖率XXX%与Transition故障覆盖率XXX%的目标。

5.测试成本优化:分析测试向量长度与测试机台时间的关联,通过压缩算法和测试点插入精简向量集;协同封装厂评估测试项目,合并冗余测试项;推动测试流程优化,使得单颗芯片平均测试成本下降XXX%。

6.测试质量提升:参与新产品流片后的工程批测试,分析测试良率数据与失效日志;定位测试向量或设计存在的缺陷,提出修复方案并验证;建立量产测试监控基线,将因测试问题导致的客户退货率降低XXX%。


工作业绩:

1.完成X颗XXX纳米至XXX纳米工艺芯片的DFT全流程工作,保障所有芯片按时交付流片。

2.将芯片平均生产测试时间缩短XXX%,助力主力产品在测试成本上保持竞争优势。

3.主导的DFT方案将量产芯片平均DPPM降低至XXX以下,显著提升了客户满意度。

4.建立团队内部DFT检查清单与问题知识库,将新人项目上手周期缩短XXX%。

项目名称:XXX纳米车载MCU芯片DFT实现与量产导入

担任角色:项目负责人

项目背景:
项目内容:

公司首颗车规级MCU芯片项目,采用XXX纳米工艺,集成多个CPU核心与丰富外设模块。项目面临严格的ISO 26262功能安全认证要求与紧张的流片时间窗口,初始DFT方案预估测试时间过长,且无法满足安全机制诊断覆盖率要求,存在量产成本超标与认证失败风险。

项目业绩:

项目业绩:

1.最终交付的DFT方案实现Stuck-at故障覆盖率XXX%,Transition故障覆盖率XXX%,满足功能安全目标。

2.通过向量压缩与测试流程优化,将量产测试时间从预估的XXX毫秒降低至XXX毫秒,单颗测试成本节约XXX%。

3.项目一次流片成功,工程批测试良率达到XXX%,保障产品按期通过客户认证并进入量产,累计出货超XXX万颗。

4.项目中形成的车规芯片DFT检查流程被采纳为部门标准,应用于后续X个同类项目。

江苏大学

微电子科学与工程 | 本科

主修课程:

GPA X.XX/X.X(专业前XX%),主修半导体物理、数字集成电路设计等核心课程,熟练掌握Verilog语言与Tcl脚本编写。课程设计完成一个基于SMIC XXX纳米工艺的RISC-V处理器核前端设计,并独立负责其扫描链设计与基础ATPG仿真,熟悉Design Compiler与TetraMAX工具的基本流程。

专业背景:拥有X年半导体DFT工程师经验,专注纳米级数字芯片的测试方案设计与量产导入,熟悉从RTL到GDSII再到ATE的全流程,累计支持X颗芯片成功流片与量产。技术实现:精通扫描链、ATPG、MBIST等主流DFT技术,能够独立负责中等规模芯片的完整DFT实现,将测试覆盖率稳定提升至XXX%以上,并具备测试成本优化实战经验。流程优化:善于分析测试数据以定位设计或工艺问题,主导建立测试问题排查SOP,将量产测试异常的分析解决周期平均缩短XXX%。个人特质:逻辑清晰,注重细节,具备强烈的责任心与质量意识,能够承受项目压力并与设计、后端、产品等多团队紧密协作,确保芯片按时高质量交付。