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陈小湾

性别: 男 年龄: 26 学历: 本科 婚姻状态: 未婚 工作年限: 4年 政治面貌: 党员 邮箱: xiaowan@gangwan.com 电话号码: 18600001654

求职意向

工作性质: 全职 应聘职位: DFT工程师 期望工作地址: 北京 期望薪资: 8000-10000 求职状态: 离职-随时到岗

工作经历

2024-09 - 2025-12
北京XX科技有限公司
北京

XXX微电子是专注高性能计算与汽车电子芯片设计的fabless公司,团队规模约XXX人,核心产品为车规级MCU与AI加速芯片,已成功流片并量产X款芯片,服务国内外超过XXX家汽车与服务器客户,与多家头部Tier1供应商建立长期合作。

DFT工程师 汇报对象:部门总监

工作概述:

1.DFT架构制定:依据芯片规模与上市周期要求,协同设计团队确定测试策略;评估IP类型与工艺节点,平衡测试覆盖率和面积成本,制定包含SCAN,MBIST,Boundary Scan的完整方案;通过早期介入设计评审,将后端因DFT引入的迭代次数减少XXX%。

2.ATPG实现:负责全芯片ATPG向量生成与验证;编写并维护测试协议文件,处理复杂时钟与复位结构;利用工具调试测试点插入与覆盖率收敛问题,确保ATPG模式有效生成;通过优化测试压缩算法与向量顺序,将测试时间缩短XXX%。

3.SCAN规划与实现:完成芯片级SCAN链 stitching 与集成;解决链间时序冲突与物理DRC违例,确保链长度平衡;生成并验证shift与capture模式,检查测试逻辑功能正确;建立模块级与芯片级SCAN检查清单,将集成阶段的问题发现提前,避免流片后缺陷。

4.MBIST集成:负责SRAM与ROM的MBIST控制器集成与验证;根据存储器类型与布局规划BIST链,定制测试算法;完成BIST控制器与芯片测试控制器的接口联调,生成并验证BIST模式;通过优化BIST时钟与测试序列,将存储器测试时间降低XXX%,并确保测试可靠性。

5.BSD实现:依据IEEE

1149.1/

7.1标准实现芯片Boundary Scan功能;设计TAP控制器与指令寄存器,集成用户自定义指令;完成边界寄存器链的插入与验证,支持板级互联测试;制定BSD验证测试用例,确保与第三方测试设备兼容,提升芯片可观测性。

6.低功耗DFT:针对芯片多电压域与电源关断场景,设计对应的测试方案;处理测试模式下的电源序列与隔离单元插入,避免测试过程中的电流冲击;验证测试向量在低功耗模式下的正确性,保障测试覆盖率不受功耗管理逻辑影响。

7.流程与质量建设:建立并维护公司DFT流程与checklist文档;开发用于自动化数据检查与报告生成的脚本,提升团队协作效率;对新入职工程师进行工具与方法培训,输出XXX份技术文档;通过持续优化流程,将项目交付周期平均缩短XXX天。


工作业绩:

1.主导并完成X颗量产芯片的DFT全流程工作,芯片最高测试覆盖率稳定在XXX%以上,量产良率均达到客户要求。

2.通过DFT架构优化与ATPG策略改进,平均为每颗芯片节省测试机台时间XXX小时,折合测试成本降低约XXX%。

3.建立的DFT流程与质量体系,支撑团队同时并行X个中大型芯片项目,交付物一次通过率提升至XXX%。

4.培养并指导X名初级DFT工程师,形成稳定的技术梯队,保障了关键项目的技术传承与交付风险控制。

主动离职,希望有更多的工作挑战和涨薪机会。

项目经历

2024-09 - 2025-12
车规级域控制MCU芯片的DFT实现
项目负责人

公司首颗基于XXX纳米工艺的车规级高性能MCU项目,芯片包含超过XXX万个标准单元与XXX个嵌入式存储器,需满足ASIL-D功能安全等级与零缺陷质量要求。项目面临多时钟域、复杂复位网络及低功耗设计的DFT挑战,传统测试方法难以在苛刻的测试时间预算内达成目标覆盖率,且需满足车规认证对测试质量的特殊要求。

项目职责:

1.负责制定满足功能安全与零缺陷目标的芯片DFT总体架构,确定SCAN,MBIST,Analog Test等模块的集成方案与面积预算。

2.主导ATPG实现,处理芯片中XX个时钟域与复杂复位结构的测试协议,调试覆盖率瓶颈,生成生产用测试向量。

3.完成所有XXX条SCAN链的规划、插入与验证,解决链间物理与时序冲突,确保测试逻辑在各类工作模式下功能正确。

4.集成并验证XX个MBIST控制器,覆盖芯片中所有SRAM与ROM,定制测试算法以优化测试时间与故障模型覆盖。

5.负责Boundary Scan模块的实现与验证,支持板级测试与芯片互连诊断,提升产品可维修性。

项目业绩:

1.最终芯片生产测试覆盖率达成XXX%,超过客户要求的XXX%目标,为芯片一次流片成功及通过车规认证奠定基础。

2.通过采用片上测试压缩技术与MBIST流程优化,将量产测试时间压缩了XXX%,单颗芯片测试成本下降约XXX%。

3.项目开发的DFT方案与验证流程成为公司后续车规芯片的参考标准,支撑了X个后续同类项目的顺利启动与交付。

教育背景

2020-09 - 2024-07
杭州电子科技大学
微电子学 本科

GPA X.XX/X.X(专业前XX%),主修数字集成电路设计、半导体物理与器件等核心课程,熟悉Verilog硬件描述语言与CMOS设计流程。参与课程团队项目“基于FPGA的多功能数字钟设计”,负责时序逻辑模块开发与整体功能验证。掌握Synopsys、Cadence等EDA工具的基础操作,了解芯片从设计到流片的基本流程。

自我评价

工作背景:拥有超过10年半导体行业DFT工程师经验,专注于数字芯片从设计到量产的测试方案实现,深耕高性能计算与汽车电子芯片领域,累计参与并主导X颗复杂芯片的DFT工作,所有负责芯片均成功量产。技术专长:精通ATPG、MBIST、Boundary Scan等主流DFT技术,具备从架构制定到生产向量交付的全流程能力,熟练运用行业主流EDA工具进行实现与验证。项目统筹:擅长在百人规模项目中协同前端设计、后端实现与测试工程团队,平衡技术指标与项目周期,通过流程优化将项目平均交付周期缩短XXX%。技术传承:注重团队能力建设与知识沉淀,主导建立公司DFT流程规范,输出核心文档XXX份,培养指导初级工程师X名。个人特质:问题导向,对芯片测试质量有严格追求,能适应高强度、快节奏的芯片研发环境,具备良好的跨团队沟通与抗压能力。

培训经历

2024-09 - 2025-12
岗湾培训中心
ITC认证 北京

完成国际测试会议相关的DFT专业认证,系统更新了关于最新测试压缩技术与低功耗测试方法学的知识。将认证所学应用于后续的车规芯片项目,通过引入更高效的测试压缩架构,在保持相同覆盖率的前提下,将测试数据量减少了XXX%,直接降低了测试存储与传输成本。

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《资深DFT工程师个性简历模板》简历文字详情

姓名:陈小湾

性别:

年龄:26

学历:本科

婚姻:未婚

年限:4年

面貌:党员

邮箱:xiaowan@gangwan.com

电话:18600001654

工作性质:全职

应聘职位:DFT工程师

期望城市:北京

期望薪资:8000-10000

求职状态:离职-随时到岗

北京XX科技有限公司 | DFT工程师

2024-09 - 2025-12

公司背景:

XXX微电子是专注高性能计算与汽车电子芯片设计的fabless公司,团队规模约XXX人,核心产品为车规级MCU与AI加速芯片,已成功流片并量产X款芯片,服务国内外超过XXX家汽车与服务器客户,与多家头部Tier1供应商建立长期合作。

工作内容:

工作概述:

1.DFT架构制定:依据芯片规模与上市周期要求,协同设计团队确定测试策略;评估IP类型与工艺节点,平衡测试覆盖率和面积成本,制定包含SCAN,MBIST,Boundary Scan的完整方案;通过早期介入设计评审,将后端因DFT引入的迭代次数减少XXX%。

2.ATPG实现:负责全芯片ATPG向量生成与验证;编写并维护测试协议文件,处理复杂时钟与复位结构;利用工具调试测试点插入与覆盖率收敛问题,确保ATPG模式有效生成;通过优化测试压缩算法与向量顺序,将测试时间缩短XXX%。

3.SCAN规划与实现:完成芯片级SCAN链 stitching 与集成;解决链间时序冲突与物理DRC违例,确保链长度平衡;生成并验证shift与capture模式,检查测试逻辑功能正确;建立模块级与芯片级SCAN检查清单,将集成阶段的问题发现提前,避免流片后缺陷。

4.MBIST集成:负责SRAM与ROM的MBIST控制器集成与验证;根据存储器类型与布局规划BIST链,定制测试算法;完成BIST控制器与芯片测试控制器的接口联调,生成并验证BIST模式;通过优化BIST时钟与测试序列,将存储器测试时间降低XXX%,并确保测试可靠性。

5.BSD实现:依据IEEE

1149.1/

7.1标准实现芯片Boundary Scan功能;设计TAP控制器与指令寄存器,集成用户自定义指令;完成边界寄存器链的插入与验证,支持板级互联测试;制定BSD验证测试用例,确保与第三方测试设备兼容,提升芯片可观测性。

6.低功耗DFT:针对芯片多电压域与电源关断场景,设计对应的测试方案;处理测试模式下的电源序列与隔离单元插入,避免测试过程中的电流冲击;验证测试向量在低功耗模式下的正确性,保障测试覆盖率不受功耗管理逻辑影响。

7.流程与质量建设:建立并维护公司DFT流程与checklist文档;开发用于自动化数据检查与报告生成的脚本,提升团队协作效率;对新入职工程师进行工具与方法培训,输出XXX份技术文档;通过持续优化流程,将项目交付周期平均缩短XXX天。


工作业绩:

1.主导并完成X颗量产芯片的DFT全流程工作,芯片最高测试覆盖率稳定在XXX%以上,量产良率均达到客户要求。

2.通过DFT架构优化与ATPG策略改进,平均为每颗芯片节省测试机台时间XXX小时,折合测试成本降低约XXX%。

3.建立的DFT流程与质量体系,支撑团队同时并行X个中大型芯片项目,交付物一次通过率提升至XXX%。

4.培养并指导X名初级DFT工程师,形成稳定的技术梯队,保障了关键项目的技术传承与交付风险控制。

项目名称:车规级域控制MCU芯片的DFT实现

担任角色:项目负责人

项目背景:
项目内容:

公司首颗基于XXX纳米工艺的车规级高性能MCU项目,芯片包含超过XXX万个标准单元与XXX个嵌入式存储器,需满足ASIL-D功能安全等级与零缺陷质量要求。项目面临多时钟域、复杂复位网络及低功耗设计的DFT挑战,传统测试方法难以在苛刻的测试时间预算内达成目标覆盖率,且需满足车规认证对测试质量的特殊要求。

项目业绩:

项目业绩:

1.最终芯片生产测试覆盖率达成XXX%,超过客户要求的XXX%目标,为芯片一次流片成功及通过车规认证奠定基础。

2.通过采用片上测试压缩技术与MBIST流程优化,将量产测试时间压缩了XXX%,单颗芯片测试成本下降约XXX%。

3.项目开发的DFT方案与验证流程成为公司后续车规芯片的参考标准,支撑了X个后续同类项目的顺利启动与交付。

杭州电子科技大学

微电子学 | 本科

主修课程:

GPA X.XX/X.X(专业前XX%),主修数字集成电路设计、半导体物理与器件等核心课程,熟悉Verilog硬件描述语言与CMOS设计流程。参与课程团队项目“基于FPGA的多功能数字钟设计”,负责时序逻辑模块开发与整体功能验证。掌握Synopsys、Cadence等EDA工具的基础操作,了解芯片从设计到流片的基本流程。

工作背景:拥有超过10年半导体行业DFT工程师经验,专注于数字芯片从设计到量产的测试方案实现,深耕高性能计算与汽车电子芯片领域,累计参与并主导X颗复杂芯片的DFT工作,所有负责芯片均成功量产。技术专长:精通ATPG、MBIST、Boundary Scan等主流DFT技术,具备从架构制定到生产向量交付的全流程能力,熟练运用行业主流EDA工具进行实现与验证。项目统筹:擅长在百人规模项目中协同前端设计、后端实现与测试工程团队,平衡技术指标与项目周期,通过流程优化将项目平均交付周期缩短XXX%。技术传承:注重团队能力建设与知识沉淀,主导建立公司DFT流程规范,输出核心文档XXX份,培养指导初级工程师X名。个人特质:问题导向,对芯片测试质量有严格追求,能适应高强度、快节奏的芯片研发环境,具备良好的跨团队沟通与抗压能力。